目的

本技術(shu)說(shuo)明(ming)旨在幫助用戶(hu)更好地理解Gamry電化(hua)學(xue)工作站的校正(zheng)過程與(yu)數據，一般只需簡單看一看，即可判斷是來自儀(yi)器(qi)內在的問題，還是由(you)外部因(yin)素所引起。

介(jie)紹

要獲取可(ke)重復(fu)的(de)(de)準(zhun)確數(shu)據，必須對(dui)您的(de)(de)Gamry電化學工(gong)作站進行適當(dang)的(de)(de)校正(zheng)，這個診斷(duan)測試能夠幫(bang)助用戶(hu)判斷(duan)儀器(qi)是否存在問(wen)題，是故障(zhang)排除的(de)(de)*步。

通(tong)常自檢(jian)都沒有(you)問題(ti)，但(dan)有(you)時(shi)，會(hui)有(you)個別項目不能通(tong)過，這篇技術(shu)說明(ming)能夠幫助您(nin)正確(que)解(jie)析校正結(jie)果數據，從而決定下(xia)一步(bu)操(cao)作。

Gamry Interface系(xi)列和Reference系(xi)列電化學工(gong)作站(zhan)的自我校正，結果基本上類似。

實(shi)驗室條件

當(dang)運行Gamry電(dian)化學工作站校正時，請首先確(que)認儀(yi)器(qi)已經(jing)正確(que)接地和預熱，另(ling)外，電(dian)解池(chi)是否已經(jing)放置于法拉第屏蔽箱中（防止雜散(san)電(dian)磁場的干擾）。如果不滿足上(shang)述條件，可(ke)能會(hui)由于這些外部問題而導(dao)致(zhi)儀(yi)器(qi)校正失敗，這不是儀(yi)器(qi)內部電(dian)路(lu)原(yuan)因造成(cheng)的。

放棄、重(zhong)做(zuo)還是忽(hu)略(lve)？

當校(xiao)正(zheng)(zheng)過(guo)(guo)程中某個(ge)項(xiang)目不能通過(guo)(guo)時，會顯示(shi)提示(shi)信息“Abort, Retry, or Ignore？”一般來說，我(wo)們建(jian)議您(nin)點擊(ji)“Ignore”繼續(xu)進行校(xiao)正(zheng)(zheng)，這樣儀(yi)器將會保(bao)存(cun)校(xiao)正(zheng)(zheng)報告，方便過(guo)(guo)后進行分析。

通道補償

Gamry電化學工作站(zhan)自我校正(zheng)的*步是檢查通(tong)道(dao)補償。

這(zhe)一(yi)步測(ce)試一(yi)般(ban)都能(neng)正(zheng)常通過，如(ru)果失敗，意味(wei)著電(dian)化學工作站本身出了問題(ti)。因此，如(ru)果“Ich Channel Offset”或者“Vch Channel Offset”測(ce)試顯示(shi)不通過，您需要(yao)將儀器寄給我們上海辦公室作進(jin)一(yi)步測(ce)試和分析。

Esig衰減補償

檢查(cha)電(dian)壓信號的Esig衰減測試，僅與Reference系(xi)列相關，如(ru)果(guo)這項測試失敗，則可能(neng)是電(dian)極(ji)線(xian)纜出了問題。換(huan)一根(gen)同樣的線(xian)再測，看(kan)看(kan)是否(fou)能(neng)順利通過。如(ru)果(guo)仍(reng)未通過，請。

IE補(bu)償

Reference系列電(dian)化學(xue)工作站(zhan)

對于Reference系列電化學工作站，如果前四個“IE Offsets”測試不通過，這未必是什么重大問題。Reference系列電化學工作站非常靈敏，附近小的雜散放電（低至皮安級的電流），或者甚至儀器內部電路板附近濕度上升，都可能引起系統噪聲。確認實驗室條件符合要求（預熱、電解池置于法拉第箱中、接地），再次進行校正。如果測試幾次，仍不能通過，請保存好校正報告，然后Gamry。

以下(xia)是Reference 3000受到(dao)系統雜(za)散電壓干(gan)擾的例(li)子。未(wei)通(tong)過的項(xiang)目(mu)標記為(wei)紅色。請注意，在(zai)低量(liang)程(cheng)時(shi)未(wei)通(tong)過測試(shi)，而隨著量(liang)程(cheng)不斷提高，越來越接近(jin)儀器(qi)要求(qiu)的誤差(cha)范(fan)圍。再次運(yun)行校正程(cheng)序后(hou)，測試(shi)通(tong)過。

IE Offset [0]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [1]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [2]:  -2.499907 (+/-0.1530099) - FAILED

IE Offset [3]:  -0.3623838  (+/-0.0180118) - FAILED

IE Offset [4]:  -0.0360763  (+/-0.0044999) - FAILED

IE Offset [5]:  -0.0031543  (+/-0.00315) - FAILED

IE Offset [6]:  -0.0001412  (+/-0.003015) - PASSED

IE Offset [7]:  0.000234  (+/-0.0030015) - PASSED

IE Offset [8]:  0.000261  (+/-0.0030001) - PASSED

IE Offset [9]:  0.000876  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [10]:  0.0006043  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [11]:  0.0006585  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [12]:  0.0005845  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [13]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [14]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [15]:  0  (+/-0.003) - PASSED

Interface系列電化學工(gong)作站(zhan)

對于 Interface系列(lie)電(dian)化學工作站，如果(guo)前面兩個IE Offsets沒通過(guo)，這不一(yi)定是儀(yi)器出了問(wen)題(ti)。低(di)量程可(ke)能是對附近偶然的雜散放電(dian)作出的響應。再次運行測試，如果(guo)仍(reng)不通過(guo)，請Gamry。

所(suo)有(you)Gamry電化(hua)學工作站(zhan)適用(yong)

誤(wu)差(cha)范圍可(ke)(ke)能(neng)(neng)會(hui)(hui)比較容易混(hun)淆。測(ce)試(shi)(shi)報(bao)告(gao)顯(xian)示允(yun)許的誤(wu)差(cha)范圍是±0.003 V，但對于儀器校正，可(ke)(ke)以將(jiang)IE Offset調整到±0.005 V。因此，當誤(wu)差(cha)達(da)到5 mV時(shi)，即(ji)使(shi)被標記(ji)為“FAILED”，電化學工作站(zhan)仍然是可(ke)(ke)以正常(chang)使(shi)用的。IE Offset 測(ce)試(shi)(shi)中，±0.005 V的誤(wu)差(cha)并不會(hui)(hui)影(ying)響系統的性(xing)能(neng)(neng)。如果誤(wu)差(cha)超過(guo)±0.005 V，IE Offset 測(ce)試(shi)(shi)失敗，請Gamry。

以(yi)下(xia)是某臺Reference 600的校正數據(ju)，偏差在5 mV以(yi)內（標記為紅色），超過(guo)了要求的3 mV，儀器仍可以(yi)正常(chang)使用。

IE Offset [0]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [1]:  0.1395359  (+/-0.5029737) - PASSED

IE Offset [2]:  0.0125915  (+/-0.0529929) - PASSED

IE Offset [3]:  -0.0009198  (+/-0.0079992) - PASSED

IE Offset [4]:  -0.0029896  (+/-0.0035) - PASSED

IE Offset [5]:  -0.0034733  (+/-0.00305) - FAILED

IE Offset [6]:  -0.0033375  (+/-0.003005) - FAILED

IE Offset [7]:  -0.0033915 ; (+/-0.0030005) - FAILED

IE Offset [8]:  -0.0040573  (+/-0.0030001) - FAILED

IE Offset [9]:  -0.0030547  (+/-0.003) - FAILED

IE Offset [10]:  -0.0030556  (+/-0.003) - FAILED

IE Offset [11]:  -0.0030545  (+/-0.003) - FAILED

IE Offset [12]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [13]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [14]:  0  (+/-0.003) - PASSED

IE Offset [15]:  0  (+/-0.003) - PASSED

靜電計（EL）補償

靜電計（EL）補償測試(shi)也常(chang)(chang)(chang)常(chang)(chang)(chang)引(yin)起混淆(xiao)。測試(shi)報告顯(xian)示的允許誤(wu)差范(fan)圍是±0.003 V，但對于儀(yi)器校(xiao)正可以(yi)放寬(kuan)到±0.005 V。因此，如(ru)果誤(wu)差不(bu)超過5 mV，即使(shi)被標記(ji)為“FAILED”，電化學工作站仍然可以(yi)正常(chang)(chang)(chang)使(shi)用，±0.005 V誤(wu)差并不(bu)會影響系(xi)統性能。如(ru)果靜電計補償（EL Offset）測試(shi)失敗，并且誤(wu)差超過±0.005 V，請Gamry。

Pstat Control Offset, Scan DAC Offset, ZRA Scan Offset, Pstat Bias DAC Offset, DDS Offset, 以及 Positive Feedback Offset

這些不同的(de)測試(shi), 適(shi)合于Gamry Interface系(xi)(xi)列(lie)和Reference系(xi)(xi)列(lie)電化學工作(zuo)站(zhan)。如果其中一(yi)項或多項不能(neng)(neng)通(tong)過，可(ke)能(neng)(neng)是(shi)電極線纜(lan)的(de)問題，嘗試(shi)換用一(yi)根同樣類型的(de)線，再次運行(xing)校正(zheng)程序。

如果其中一項不能(neng)通過(guo)，但所有Applied DC測試(shi)都能(neng)通過(guo)情況下（參考下面的數據(ju)），可(ke)能(neng)是電化學工作站(zhan)內部的問題，請Gamry，獲取幫(bang)助。

Applied DC測試

如果Applied DC測試不通過，但前面提到的測試均能通過的情況下，可能是電極線纜出了問題。換用一根同樣的線再測試。

以下是狀態正(zheng)常(chang)的(de)(de)Reference 3000，使用一根有(you)問(wen)題的(de)(de)電(dian)極線進行校正(zheng)的(de)(de)情況，未(wei)通過的(de)(de)項目標記為紅(hong)色(se)。

Pstat Control Offset [0]:7.540061E-006(+/-0.008)- PASSED

Scan DAC Offset [0]:  6.794175E-006  (+/-0.008) - PASSED

Scan DAC Offset [1]:  9.42243E-007  (+/-0.008) - PASSED

Scan DAC Offset [2]:  1.817607E-008  (+/-0.008) - PASSED

ZRA Scan Offset [0]:  0.0001081  (+/-0.008) - PASSED

ZRA Scan Offset [1]:  0.000112  (+/-0.008) - PASSED

ZRA Scan Offset [2]:  0.000115  (+/-0.008) - PASSED

Pstat Bias DAC Offset [0]: 8.403379E-006  (+/-0.008)-PASSED

Positive Feedback Offset [0]: 2.085462E-005 (+/-0.005) -PASSED

APPLIED DC PSTAT: 9.053656E-008 (0.0005 +/- 10%) - FAILED

APPLIED DC PSTAT: 1.424587E-008 (-0.0005 +/- 10%) - FAILED

APPLIED DC GSTAT:  -3.99024E-005  (-1 +/- 10%) - FAILED

APPLIED DC GSTAT:  -3.892947E-006  (1 +/- 10%) - FAILED

如果Applied DC測試與之前提到的測試都無法通過，請Gamry，獲取幫助。

Summary總結

本技術說明詳(xiang)細描述了各種(zhong)自我校正(zheng)測試項(xiang)目，以及怎樣快速判斷是否來(lai)自電化學工作站內部的問(wen)題(ti)(ti)，還(huan)是電極線纜的問(wen)題(ti)(ti)。同(tong)樣，如果您對(dui)Gamry設備的(de)操作有任何問題，都可以(yi)。